Spettrofotometro X-Rite Ci4200Lo spettrofotometro X-Rite Ci4200 è uno strumento compatto da banco "made in U.S.A." con geometria ottica a sfera d/8° DRS che consente misure in riflessione ad alta precisione del colore, differenze colore e metamerismo. Opera in pieno accordo strumentale con la serie di strumenti portatili X-Rite (Serie Ci6X, Ci5x e SP6x)

Può essere utilizzato in tutti i settori produttivi e su qualsiasi materiale purchè la colorazione sia sufficientemente coprente, non sia ad effetto (metallizzati/perlescenti/ecc.) e la forma del campione / zona di lettura sia di dimensioni adeguate.

Misura la riflettanza (campo 400-700nm) con componente speculare sia inclusa che esclusa (SCI/SCE) e fornisce attraverso il software la rappresentazione nella maggior parte delle scale colorimetriche, indici, differenze ed illuminanti CIE esistenti, compreso il gloss correlato a 60° (in GU).

Lo strumento non è dotato di display pertanto deve operare in collegamento al PC con un software X-Rite di controllo qualità o formulazione del colore.

Principali caratteristiche

  • Area di misura: effettiva Ø 8mm, mirino Ø 14mm
  • Possibilità di ribaltare lo strumento (per utilizzo in orizzontale o verticale)
  • Braccetto ribaltabile per il fissaggio del campione
  • Pulsante di misura direttamente sullo strumento
  • Ripetibilità: entro 0,05∆E (su piastra bianca)
  • Accordo strumentale: entro 0,20∆E medio (su 12 piastre BCRA)
  • Connessione al PC via USB (il software è escluso)

Sono inclusi: piastra di calibrazione bianco/nero/verde, alimentatore 220VAC, cavo USB, manuali d'uso, certificato di calibrazione X-Rite con tracciabilità NIST (National Institute of Standard and Technology - USA)

Questo strumento è disponibile anche nella versione con UV (cod. Ci4200UV)

 

 

 

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